GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法

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信息属性
  • 名称
  • 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法
  • 图集标准编号
  • GB/T 42263-2022
  • 发布日期
  • 2022-12-30
  • 实施日期
  • 2023-04-01
  • 图集标准编号
  • GB/T 42263-2022
  • 标准状态
  • 现行(*非即时更新以实际为准)
详情介绍

GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法

标准编号:GB/T 42263-2022

规范名称:硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法

该国家标准描述了硅单晶中氮含量的二次离子质谱测试方法。

该国家标准适用于硼、锑、砷、磷的掺杂浓度小于1×1020cm-3(0.2%)的硅单晶中氮含量的测定,测定范围不小于1×1014cm-3。

全国半导体设备和材料标准化技术委员会

起草单位:中国电子科技集团公司第四十六研究所、有色金属技术经济研究院有限责任公司

起草人:马农农、何友琴、刘立娜、何烜坤、李素青、陈潇

GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定  二次离子质谱法

GB/T 42263-2022 硅单晶中氮含量的测定 二次离子质谱法(图)

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